Metadata
000 -Etiqueta do registo |
campo de controlo de comprimento fixo |
00752nam0a22002170004500 |
001 - Identificador do registo |
Campo de controlo |
90011 |
005 - Identificador da versão |
Campo de controlo |
20200804115202.0 |
010 ## - ISBN |
Número (ISBN) |
981-02-1482-0 |
Qualificação |
(Encadernado) |
100 ## - Dados Gerais de Proc. |
Dados gerais de processamento |
19941012d1994 k y0pory5003 ba |
101 0# - Língua da publicação |
Língua do texto,banda sonora,etc. |
Inglês |
102 ## - País de Publicação |
País de publicação |
Singapura |
200 1# - Título |
Título próprio |
Thinning methodologies for pattern recognition |
Primeira menção de responsabilidade |
ed. C. Y. Suen, P. S. P. Wang |
210 ## - Publicação, Distribuição |
Lugar da edição,distribuição,etc. |
Singapore |
Nome do editor,distribuidor,etc. |
World Scientific |
Data da publicação,distribuição,etc. |
cop. 1994 |
215 ## - Descrição física |
Descrição física |
344 p. |
Outras indicações físicas |
il. |
Dimensões |
26 cm |
225 2# - Colecção |
Título próprio da colecção |
Series in machine perception and artificial intelligence |
Indicação de volume |
8 |
675 ## - CDU |
Notação |
681.3 |
Edição |
int |
Língua da edição |
Inglês |
702 #1 - Responsabilidade secundária |
Koha Internal Code |
172195 |
Palavra de ordem |
Suen, |
Outra parte do nome |
C. Y. |
Código de função |
Coordenador/Editor |
702 #1 - Responsabilidade secundária |
Koha Internal Code |
186905 |
Palavra de ordem |
Wang, |
Outra parte do nome |
P. S. P. |
Código de função |
Coordenador/Editor |
090 ## - Números de controlo do sistema (Koha) |
Número biblioitem do Koha (gerado automaticamente) |
90011 |
942 ## - Elementos de entrada adicionados (Koha) |
Tipo de item no Koha |
Monografia |
Suprimido |
Disponível no OPAC |