Metadata
| 000 -Etiqueta do registo |
|---|
| campo de controlo de comprimento fixo |
01023nam0a22002530004500 |
| 001 - Identificador do registo |
|---|
| Campo de controlo |
69299 |
| 005 - Identificador da versão |
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| Campo de controlo |
20200804112722.0 |
| 010 ## - ISBN |
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| Número (ISBN) |
1-55899-100-X |
| Qualificação |
(Encadernado) |
| 100 ## - Dados Gerais de Proc. |
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| Dados gerais de processamento |
19930115d1991 k y0pory5003 ba |
| 101 0# - Língua da publicação |
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| Língua do texto,banda sonora,etc. |
Inglês |
| 102 ## - País de Publicação |
|---|
| País de publicação |
Estados Unidos |
| 200 1# - Título |
|---|
| Título próprio |
Advances in surface and thin film diffraction |
| Primeira menção de responsabilidade |
Symposium... |
| Outras menções de responsabilidade |
ed. Ting C. Huang, Philip I. Cohen, David J. Eaglesham |
| 210 ## - Publicação, Distribuição |
|---|
| Lugar da edição,distribuição,etc. |
Pittsburgh |
| Nome do editor,distribuidor,etc. |
Materials Research Society |
| Data da publicação,distribuição,etc. |
cop. 1991 |
| 215 ## - Descrição física |
|---|
| Descrição física |
XV, 367, [8] p. |
| Outras indicações físicas |
il. |
| Dimensões |
24 cm |
| 225 2# - Colecção |
|---|
| Título próprio da colecção |
Materials Research Society symposium proceedings |
| Indicação de volume |
208) |
| 675 ## - CDU |
|---|
| Notação |
538.975 |
| Edição |
med |
| Língua da edição |
Português |
| 675 ## - CDU |
|---|
| Notação |
535.42 |
| Edição |
med |
| Língua da edição |
Português |
| 702 #1 - Responsabilidade secundária |
|---|
| Koha Internal Code |
84779 |
| Palavra de ordem |
Huang, |
| Outra parte do nome |
Tin C. |
| Código de função |
Coordenador/Editor |
| 702 #1 - Responsabilidade secundária |
|---|
| Koha Internal Code |
36863 |
| Palavra de ordem |
Cohen, |
| Outra parte do nome |
Philip I. |
| Código de função |
Coordenador/Editor |
| 702 #1 - Responsabilidade secundária |
|---|
| Koha Internal Code |
53572 |
| Palavra de ordem |
Eaglesham, |
| Outra parte do nome |
David J. |
| Código de função |
Coordenador/Editor |
| 710 12 - Colectividade (resp. principal) |
|---|
| Palavra de ordem |
Symposium [on] Advances in Surface and Thin Film Diffraction, |
| Local do grupo-eventual |
Boston, Mass., |
| Data do grupo-eventual |
1990 |
| 090 ## - Números de controlo do sistema (Koha) |
|---|
| Número biblioitem do Koha (gerado automaticamente) |
69299 |
| 942 ## - Elementos de entrada adicionados (Koha) |
|---|
| Tipo de item no Koha |
Monografia |
| Suprimido |
Disponível no OPAC |
