Metadata
| 000 -Etiqueta do registo |
|---|
| campo de controlo de comprimento fixo |
00767nam-a2200217---4500 |
| 001 - Identificador do registo |
|---|
| Campo de controlo |
222067 |
| 005 - Identificador da versão |
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| Campo de controlo |
20200804142843.0 |
| 010 ## - ISBN |
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| Número (ISBN) |
0-471-97486-2 |
| Qualificação |
(Encadernado) |
| 100 ## - Dados Gerais de Proc. |
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| Dados gerais de processamento |
20020702d2000 k y0pory5003 ba |
| 101 0# - Língua da publicação |
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| Língua do texto,banda sonora,etc. |
Inglês |
| 102 ## - País de Publicação |
|---|
| País de publicação |
Reino Unido |
| 200 1# - Título |
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| Título próprio |
Statistical analysis of microstructures in material science |
| Primeira menção de responsabilidade |
Joachim Ohser, Frank Mücklich |
| 210 ## - Publicação, Distribuição |
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| Lugar da edição,distribuição,etc. |
Chichester |
| Nome do editor,distribuidor,etc. |
John Wiley & Sons |
| Data da publicação,distribuição,etc. |
cop. 2000 |
| 215 ## - Descrição física |
|---|
| Descrição física |
XXII, 381 p. |
| Outras indicações físicas |
il. |
| Dimensões |
24 cm |
| 225 2# - Colecção |
|---|
| Título próprio da colecção |
Statistics in practice) |
| 675 ## - CDU |
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| Notação |
620.1 |
| Edição |
int |
| Língua da edição |
Inglês |
| 700 #1 - Responsabilidade principal |
|---|
| Palavra de ordem |
Ohser, |
| Outra parte do nome |
Joachim |
| 701 #1 - Co-responsabilidade principal |
|---|
| Koha Internal Code |
125421 |
| Palavra de ordem |
Mücklich, |
| Outra parte do nome |
Frank |
| Código de função |
Autor |
| 090 ## - Números de controlo do sistema (Koha) |
|---|
| Número biblioitem do Koha (gerado automaticamente) |
222067 |
| 942 ## - Elementos de entrada adicionados (Koha) |
|---|
| Tipo de item no Koha |
Monografia |
| Suprimido |
Disponível no OPAC |
