Metadata
| 000 -Etiqueta do registo |
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| campo de controlo de comprimento fixo |
00707nam0a22002050004500 |
| 001 - Identificador do registo |
|---|
| Campo de controlo |
132640 |
| 005 - Identificador da versão |
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| Campo de controlo |
20200804124243.0 |
| 010 ## - ISBN |
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| Número (ISBN) |
3-540-59129-X |
| Qualificação |
(Encadernado) |
| 100 ## - Dados Gerais de Proc. |
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| Dados gerais de processamento |
19970724d1996 k y0pory5003 ba |
| 101 0# - Língua da publicação |
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| Língua do texto,banda sonora,etc. |
Inglês |
| 102 ## - País de Publicação |
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| País de publicação |
Alemanha |
| 200 1# - Título |
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| Título próprio |
Optical charecterization of epitaxial semiconductor layers |
| Primeira menção de responsabilidade |
ed. Günther Bauer, Wolfgang Richter |
| 210 ## - Publicação, Distribuição |
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| Lugar da edição,distribuição,etc. |
Berlin |
| Nome do editor,distribuidor,etc. |
Springer |
| Data da publicação,distribuição,etc. |
cop. 1996 |
| 215 ## - Descrição física |
|---|
| Descrição física |
XIV, 429 p. |
| Outras indicações físicas |
il. |
| Dimensões |
25 cm |
| 675 ## - CDU |
|---|
| Notação |
538.9 |
| Edição |
int |
| Língua da edição |
Inglês |
| 702 #1 - Responsabilidade secundária |
|---|
| Koha Internal Code |
14002 |
| Palavra de ordem |
Bauer, |
| Outra parte do nome |
Günther |
| Código de função |
Coordenador/Editor |
| 702 #1 - Responsabilidade secundária |
|---|
| Koha Internal Code |
149466 |
| Palavra de ordem |
Richter, |
| Outra parte do nome |
Wolfgang |
| Código de função |
Coordenador/Editor |
| 090 ## - Números de controlo do sistema (Koha) |
|---|
| Número biblioitem do Koha (gerado automaticamente) |
132640 |
| 942 ## - Elementos de entrada adicionados (Koha) |
|---|
| Tipo de item no Koha |
Monografia |
| Suprimido |
Disponível no OPAC |
